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微焦点DR检测系统
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关键特征:

·          190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦点射线源

         ·          JIMA卡空间分辨率测试可达2微米


         ·          支持多种平板探测器,探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米




微焦点DR检测系统

射线管

类型

反射型高功率微焦点射线管

最大管电压

微米焦点射线管:225kV/240kV/300kV/450kV

冷却

封闭式自循环冷却

焦点大小

微米焦点射线管225kV/240kV2um   (采用JIMA卡测试)

微米焦点射线管300kV3um (采用JIMA卡测试)

探测器

类型

非晶硅平板探测器,线阵探测器

像素大小

50mm /100mm   /127mm /200mm

像素数量

平板探测器:>2048´2048

线阵探测器:4100

机械系统

类型

高精度机械系统

最大有效检测范围

可定制化

最大承重

可定制化

旋转

n´3600

软件

类型

2维射线检测

软件功能

系统控制、2维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析,支持定制化软件功能

屏蔽室

温度和湿度

专用空调系统,用于控制铅房内的温度和湿度

辐射防护

根据德国 RöV,法国 NFC 74 100 和美国性能标准 21 CFR 1020.40 制造,无需进一步改造的全防护屏蔽铅房。对于最终使用,须由使用人员根据当地相关法律法规申请相应的认证许可。


恩迪检测控制

电话:400 777 3029

邮箱:info@sh-nd.com

网址:www.sh-nd.com