关键特征:
· 190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦点射线源
· JIMA卡空间分辨率测试可达2微米
· 支持多种平板探测器,探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米
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| 微焦点DR检测系统 |
射线管 | 类型 | 反射型高功率微焦点射线管 |
最大管电压 | 微米焦点射线管:225kV/240kV/300kV/450kV |
冷却 | 封闭式自循环冷却 |
焦点大小 | 微米焦点射线管225kV/240kV:2um (采用JIMA卡测试) 微米焦点射线管300kV:3um (采用JIMA卡测试) |
探测器 | 类型 | 非晶硅平板探测器,线阵探测器 |
像素大小 | 50mm /100mm /127mm /200mm |
像素数量 | 平板探测器:>2048´2048 线阵探测器:4100 |
机械系统 | 类型 | 高精度机械系统 |
最大有效检测范围 | 可定制化 |
最大承重 | 可定制化 |
旋转 | n´3600 |
软件 | 类型 | 2维射线检测 |
软件功能 | 系统控制、2维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析,支持定制化软件功能 |
屏蔽室 | 温度和湿度 | 专用空调系统,用于控制铅房内的温度和湿度 |
辐射防护 | 根据德国 RöV,法国 NFC 74 100 和美国性能标准 21 CFR 1020.40 制造,无需进一步改造的全防护屏蔽铅房。对于最终使用,须由使用人员根据当地相关法律法规申请相应的认证许可。 |
恩迪检测控制
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